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安捷特--XRF鍍層測厚儀AXIOM系列

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ACZET系列X射線熒光分析測厚儀能提供:

分析鍍層厚度和元素成份同時進行,只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,

    

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點:

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術,該技術已經(jīng)被證實并且得到廣泛應用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的樣品艙。


ACZET系列鍍層測厚儀的優(yōu)勢

l 操作簡單,只需要很少的培訓就可以操作

l 檢測速度快,無損檢測只需幾秒鐘

l 可測試單層及多層鍍層的厚度

l 可以測試電鍍液中金屬離子含量



l 對測試樣品完全無損  

自動化批量檢測:可選配XYZ全自動工作臺

l 應用行業(yè)廣泛:電子,珠寶,金屬加工等等





操作軟件 

l μ-Master用于鍍層厚度測量

l Element-Master 用于材料分析

l Report-Master 用于生成報告文件

l Data-Master 用于數(shù)據(jù)庫管理

l %-Master 用于材料分析(珠寶)

l Liquid-Master 用于電鍍液分析


可選配置

l 自動的多準直器系統(tǒng)

l 軟件控制XYZ軸實現(xiàn)自動化批量檢測




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適用于:|電子和電器|PCB|連接器|珠寶|電鍍液分析|緊固件|硬件|